ZKC-2可控硅測(cè)試儀_可控硅光耦測(cè)試儀功能介紹：

可控硅測(cè)試儀（又名：系列塑封可控硅、可控硅光耦測(cè)試儀）是一種**的數(shù)字顯示式多功能半自動(dòng)可控硅和可控硅光電耦合器參數(shù)測(cè)試裝置。

1.它可以測(cè)量小至TO-92封裝大至TO-3P封裝的**電流等的塑封單、雙向可控硅（晶閘管）。

2.設(shè)計(jì)了0-1O00uA的觸發(fā)電流量程，可以直接測(cè)量MCR100-6等微安觸發(fā)電流的可控硅。

3.可以測(cè)量DIP-6.DIP-4封裝的過(guò)零和非過(guò)零檢測(cè)可控硅輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控硅輸出的光電耦合器。

4.可以測(cè)量200A以下的螺銓型單、雙向可控硅和可控硅組合模塊。

5.測(cè)試觸發(fā)電流和觸發(fā)電壓時(shí)*需人工調(diào)節(jié)，可控硅插入測(cè)試座后儀器會(huì)自動(dòng)的調(diào)節(jié)至觸發(fā)值，并穩(wěn)定的顯示觸發(fā)電流IGT/觸發(fā)電壓VGT。

6.測(cè)試可控硅耐壓參數(shù)時(shí)只需性調(diào)節(jié)好高輸出電壓值，以后每測(cè)一個(gè)管子只要按下高壓按鈕即可顯示該可控硅的耐壓值。

該可控硅測(cè)試儀主要用于可控硅使用廠家對(duì)可控硅元件的檢驗(yàn)、參數(shù)的配對(duì)、可控硅設(shè)備的維修之用?？煽毓铚y(cè)試儀還可以**的應(yīng)用于對(duì)多種電子元器件的高低壓耐壓的測(cè)試。儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、使用方便。

可控硅光耦測(cè)試儀測(cè)試功能：

1.系列單雙向塑封可控硅觸發(fā)電流IGT、觸發(fā)電壓VGT的測(cè)試，正反向不重復(fù)峰值電壓VDSM/VRSM的測(cè)試，正反向重復(fù)峰值電壓VDRM/VRRM的測(cè)試。

2.DIP-6、DIP-4封裝的過(guò)零和非過(guò)零檢測(cè)可控硅輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控硅輸出的光電耦合器輸入LED端IFT/VFT的測(cè)試，輸出端可控硅正反向不重復(fù)峰值電壓VDSM/VRSM的測(cè)試，正反向重復(fù)峰值電壓VDRM/VRRM的測(cè)試。

3.電流在200A以內(nèi)，VDSM/VRSM在2KV以內(nèi)，觸發(fā)電流在120mA以內(nèi)的螺銓型單、雙向可控硅和可控硅組合模塊的觸發(fā)電壓IGT、觸發(fā)電流VGT的測(cè)試，正反向不重復(fù)峰值電壓VDSM/VRSM的測(cè)試，正反向重復(fù)峰值電壓VDRM/VRRM的測(cè)試。

4.2KV以內(nèi)的**二管、三管、達(dá)林頓管、整流橋、MOS場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT及**模塊的耐壓測(cè)試。

5.2KV以內(nèi)的壓敏電阻、穩(wěn)壓管、雙向觸發(fā)二管等電壓值的測(cè)試

可控硅光耦測(cè)試儀指標(biāo)：

可控硅觸發(fā)電流IGT測(cè)量范圍：6-1000uA,0-10.00mA,0-100.0mA；精度≤3%

可控硅觸發(fā)電壓VGT測(cè)量范圍：0-5V；精度≤5%

可控硅光耦輸入端LED觸發(fā)電流IFT測(cè)量范圍：0-10.00mA, 0-100.0mA；精度≤3%

可控硅光耦輸入端LED觸發(fā)電壓VFT測(cè)量范圍：0-3V；精度≤5%

可控硅和可控硅光耦輸出端，正反向不重復(fù)峰值電壓VDSM/VRSM測(cè)量范圍：0-2KV；精度≤3%

可控硅和可控硅光耦輸出端，正反向重復(fù)峰值電壓VDRM/VRRM測(cè)量范圍：0-1.6KV；精度≤5%