公司新聞
單雙可控硅測試儀
本測試儀能測試或判斷封裝的可控硅和雙向可控硅的斷態(tài)漏電流、反向漏電流、門，觸發(fā)電流、門，觸發(fā)電壓、陰，門，漏電流、通態(tài)壓降、通態(tài)平均電流、維持電流等參數(shù)。
本測試儀具有人工測試和接分選機(jī)自動(dòng)測試等測試方式。人工測試時(shí)，與測試盒相連，在測試狀態(tài)下，插入器件后，就開始測試，由人工根據(jù)顯示的分檔數(shù)進(jìn)行分選；自動(dòng)測試時(shí)，與分選機(jī)相連，由分選機(jī)輸出的“開始測試信號(hào)”控制，對(duì)器件進(jìn)行測試，并把分檔結(jié)果送至分選機(jī)。
本測試儀內(nèi)部預(yù)置可修改的方案，開機(jī)即可進(jìn)行測試。用戶也能夠?yàn)g覽并打印測試結(jié)果。本測試儀適合于生產(chǎn)廠家對(duì)封裝的可控硅和雙向可控硅進(jìn)行批量測試，也適合于應(yīng)用廠家的篩選測試。
指 標(biāo)
測試分辨率
漏 電 流：0.1uA
觸發(fā)電流：0.1uA
觸發(fā)電壓：0.01V
通態(tài)平均電流：1mA
維持電流： 0.1mA
%項(xiàng)測試時(shí)間
測試斷態(tài)漏電流：≤20mS
測試反向漏電流：≤30mS
測試觸發(fā)電流：≤30mS
測試觸發(fā)電壓：≤20mS
測試陰，門，漏電流：≤30mS
測試通態(tài)壓降：≤30mS
測試通態(tài)平均電流：≤50mS
測試維持電流：≤50mS